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霍爾效應的測量是研究半導體性質的實驗法。利用霍爾系數和電導率的測量，用來確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數與電導率隨溫度的變化，確定半導體的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫度系數等基本參數。
本儀器是利用電子和計算機數據采集系統，對霍爾樣品在弱場條件下進行變溫霍爾系數和電導率的測量，來確定半導體材料的性質。
變溫霍爾效應實驗儀是由電磁鐵、可自動換向穩流源、恒溫器、測溫控溫系統、數據采集及數據處理系統等組成。
產品特點：
1.可用范德堡法測量和標準法測量樣品；
2.可手動測量和自動測量；
3.電流自動換向、磁測自動換向，電導和霍爾自動換向；
4.R1和R2自動測量。
規格參數：
電磁鐵：0-400mT可調
勵磁電源：0-6A可調，可自動換向
穩定性：＜±0.1%
數字特斯拉計：0-2000mT，四位半數字顯示
恒流源輸出：1μA-200mA連續可調
穩定性：±0.1%
數據采集系統霍爾電壓測量范圍：0-2000mV
數據采集系統霍爾電壓分辨率：1uV
測溫范圍：77-450K
功率范圍：200W
供電電源：AC 220V，50Hz
型號：MLHT-658
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