在半導體、材料及高頻器件研發領域，精準可靠的測試系統是科研突破的關鍵支撐。我們的射頻微波測試系統，集成探針臺、溫控模塊、電氣儀表及智能軟件四大核心模塊，為科研人員提供全棧式測試能力

高頻全場景覆蓋

• 支持6/8/12英寸晶圓及高頻探針靈活配置（DC/脈沖/大電流/微波探針）

• 兼容Banana/SMA/TRAX/HV-TRAX等接口，適配各類射頻芯片測試環境

微米級精度控制

• XYZ軸運動精度1μm（XY行程8×9英寸，Z軸行程0-10mm）

• 探針平臺雙模操控：快速行程（0/0.3/3.0mm自動鎖定+ 微調行程（±25mm, 1μm精度）

• 0.5μm光學分辨率 + 200萬像素工業相機，實現微波器件焊點精準定位

智能溫控與參數分析

• 高溫卡盤RT~400°C（分辨率0.1°C，穩定性±0.1°C）

• 軟件實時繪制S參數曲線、噪聲系數、增益相位等射頻關鍵指標

詳細參數解析

一、多功能探針臺系統

平臺兼容性：

• 支持6/8/12英寸晶圓或芯片測試

精密運動控制：

• XY軸平面無隙驅動，行程8×9英寸，定位精度±1μm。

• Z軸微調行程0-10mm，精度±1μm

• 探針平臺雙重調節（快速行程0-3mm/微調±25mm）

• 智能視覺定位：

• 0.5μm光學分辨率 + 200萬像素工業相機

• 集成尺寸測量軟件，支持圖像/視頻記錄

• 探針兼容性：支持光學、大電流、高頻探針

• 接口擴展：兼容Cascade、GSG、TRL等主流測試接口

二、高溫卡盤模塊

溫控性能：

• 范圍：室溫至400℃

• 分辨率：0.1℃

• 穩定性：±0.1℃

• 高壓支持：±100V至±5000V多檔位電壓輸出

三、高精度V/I/C測試儀表

電氣參數覆蓋：

• 電壓：±1500V/±3000V/±5000V/±100V

• 電流：±500A/±1500A

• 分辨率：電壓200μV，電流10μA（注：原文電流分辨率存疑）

• 頻響范圍：1kHz-5MHz

• 掃描功能：支持參數步進、循環測試、延時觸發

四、 智能測試軟件

核心功能：

• IV/CV/TV特性曲線實時繪制

• 掃描模式自定義（步長/延遲/循環次數）

• 過壓過流保護機制

• 手動/自動測量模式切換

• 通信接口：GPIB/RS-232/USB/LAN多協議支持

選型指南

應用領域

5G/6G通信芯片：

毫米波頻段（24-43GHz）功率放大器（PA）、開關（Switch）晶圓級測試

相控陣天線（AIP）單元S參數驗證

雷達與衛星系統：

車載雷達77GHz MMIC、衛星Ka波段LNA特性分析

高溫環境下（125°C+）器件可靠性測試

第三代半導體驗證：

GaN HEMT、SiC MOSFET高頻開關損耗、柵極電荷（Qg）測試

負載牽引（Load Pull）系統集成能力（需擴展配置）

射頻前端模組（FEM）：

濾波器（Filter）、雙工器（Duplexer）插損/隔離度批量測試

多端口S參數掃描（支持4端口以上拓撲）