手機版
化工儀器網(wǎng)手機版
化工儀器網(wǎng)小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關注視頻號
X射線鍍層測厚儀通過熒光激發(fā)與信號分析實現(xiàn)非接觸式厚度測量，其核心原理可分為四個關鍵環(huán)節(jié)：
1.高能X射線激發(fā)熒光
儀器搭載微型X射線管（如鎢靶或鉬靶），發(fā)射能量可調的高能X射線束。當射線穿透鍍層時，原子內層電子（如K層）被擊出形成空穴，外層電子（如L層）躍遷填補時釋放特征X射線熒光。例如，鎳鍍層在激發(fā)下會釋放8.26keV的特征熒光，其能量與原子序數(shù)嚴格對應，成為元素識別的“指紋”。
2.鍍層-基底熒光信號分離
鍍層與基底元素不同時，二者熒光能量存在差異。儀器通過高分辨率硅漂移探測器（SDD）同時捕獲兩類熒光信號。以金鍍層（Au）在銅基底（Cu）上的測量為例，金熒光（68.8keV）與銅熒光（8.05keV）在能譜圖中形成獨立峰位，通過多道分析器（MCA）實現(xiàn)信號分離。若鍍層為合金（如錫鉛合金），則需解卷積處理混合熒光信號。
3.熒光強度-厚度數(shù)學建模
厚度計算依賴兩類模型：
標準曲線法：預先測量不同厚度標準樣品的熒光強度，建立厚度-強度數(shù)據(jù)庫。例如，某儀器對0.1-10μm鎳鍍層的測量，通過20組標準樣品擬合出二次多項式曲線，誤差控制在±0.05μm內。
薄膜FP法（基本參數(shù)法）：基于X射線與物質相互作用的量子理論，輸入鍍層密度、基底吸收系數(shù)等參數(shù)，通過迭代算法直接計算厚度。該方法無需標準樣品，適用于多層鍍層（如Au/Ni/Cu三鍍層）的同步分析。
4.環(huán)境干擾補償與校準
溫度波動（±5℃）會導致X射線管輸出強度變化2%-3%，儀器通過內置溫度傳感器實時修正。基底粗糙度（Ra>0.8μm）會引發(fā)熒光散射，需采用蒙特卡洛模擬算法補償信號損失。此外，每日開機需用純金屬標準片（如99.99%銀片）進行能量刻度，確保能譜峰位定位精度優(yōu)于±0.01keV。
典型應用場景
在半導體封裝領域，該技術可測量BGA焊球表面0.5μm金鍍層的均勻性，檢測速度達200點/分鐘，滿足生產線實時控制需求。對于汽車電鍍件，儀器能穿透0.02mm鉻鍍層，準確測量底層0.5μm鎳層的厚度分布，為電鍍工藝優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。
免責聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網(wǎng)授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網(wǎng)授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關法律責任。
- 本網(wǎng)轉載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關權利。
采購中心