在眾多涉及薄膜材料的行業中，如包裝、電子、新能源等，薄膜厚度的精確測量對產品質量把控起著關鍵作用。薄膜厚度的均勻性與準確性直接關聯產品的性能、使用壽命以及安全性。機械接觸式薄膜測厚儀憑借其優勢，成為廣泛應用的厚度測量設備。

一、機械接觸式薄膜測厚儀檢測方法

（一）工作原理

機械接觸式薄膜測厚儀主要基于接觸測量原理運作。儀器配備高精度的測量頭，在測量時，測量頭緩緩下降與薄膜表面接觸，并施加一個恒定、精準的壓力。在這一壓力作用下，薄膜表面產生微小形變，測量頭隨之產生位移。通過高精密的位移傳感器，儀器能夠精準記錄測量頭的位移量，而這一位移量恰好等同于薄膜在壓力下的形變量，經系統計算，即可得出薄膜的厚度值 。例如在塑料薄膜檢測中，常見的面接觸式探頭，其與薄膜的接觸面積是固定的，配合穩定的壓力施加系統，確保每次測量條件一致，提升測量結果的準確性與重復性。

（二）操作流程

1. 樣品準備：從待檢測的薄膜卷材或片材中，依據相關標準，裁剪出尺寸合適的試樣。試樣應保持表面平整，無褶皺、劃傷、雜質附著等情況，避免影響測量精度。如檢測食品包裝用塑料薄膜，通常將試樣裁剪成長寬約 50mm×50mm 的正方形。

2. 儀器校準：在正式測量前，需使用標準厚度的校準片對測厚儀進行校準。將校準片放置在測量平臺上，啟動測厚儀，測量頭與校準片接觸，儀器自動讀取并記錄校準片厚度數據，與已知的校準片標準厚度對比，對測量誤差進行修正，確保后續測量的準確性。

3. 固定試樣：把準備好的試樣平穩放置在測厚儀的測量平臺上，使用配套的夾具將試樣固定牢固，防止在測量過程中試樣發生位移、滑動等情況，影響測量結果。

4. 接觸測量：開啟測厚儀，測量頭在傳動裝置帶動下，按照設定速度自動下降與試樣表面接觸，并施加標準規定壓力，一般壓力范圍控制在 17.5±1kPa。測量頭依據試樣厚度產生相應位移，位移數據被傳感器實時采集。

5. 數據讀取與記錄：測厚儀內部的數據處理系統對傳感器采集到的位移數據進行運算，得出薄膜厚度值，并在顯示屏上清晰顯示。操作人員讀取數據后，將其準確記錄在專用的數據記錄表中。為保證數據代表性，通常在同一試樣上選取多個測量點進行測量，取平均值作為該試樣的最終厚度值 。

二、山東泉科瑞達儀器推薦 ——CHY - 02H 薄膜測厚儀

（一）儀器特性

1. 超高精度測量：CHY - 02H 采用品牌位移傳感器，分辨率高達 0.1μm，能捕捉薄膜厚度的細微變化。

2. 穩定性與重復性：通過科學、穩固的結構設計以及高精測控技術，有效減少外界干擾對測量結果的影響，實現接觸式厚度測試的高穩定性與重復性，。

3. 智能化操作體驗：配備 7 寸大觸控屏，操作界面簡潔直觀。

4. 強大的數據處理功能：支持多級用戶權限管理，保障數據安全。可對歷史測試數據進行便捷查詢與導出，方便數據追溯與分析。

（二）應用領域

1. 包裝行業：適用于塑料薄膜、薄片、藥用復合硬片等包裝材料的厚度檢測，確保包裝材料厚度符合相關標準，保障產品包裝質量，滿足 ISO 4591 等國際標準對包裝材料厚度測量的要求。例如在藥品包裝中，準確控制藥用復合硬片厚度，避免因厚度不均導致阻隔性能缺陷，影響藥品質量與保質期。

2. 電子行業：可用于電容器薄膜、半導體生產中的硅片、金屬片等材料的厚度測量。在電容器薄膜生產中，精確控制薄膜厚度，有助于提升電容器的性能與穩定性。

3. 新能源行業：在鋰電池隔膜生產中，通過檢測隔膜厚度均勻性，確保電池的安全性、能量密度及循環壽命。CHY - 02H 能快速完成整卷隔膜關鍵區域檢測，生成厚度分布圖，快速定位厚度異常點，為生產工藝優化提供數據支持。

山東泉科瑞達的 CHY - 02H 薄膜測厚儀，憑借在機械接觸式測量方法上的深度應用與創新，成為眾多行業進行薄膜厚度精確測量的得力工具，助力企業提升產品質量，推動行業高質量發展。