新一代GC PLOT 柱
?? 新型鍵合技術zui小化微粒脫落，減少柱堵塞，保護儀器部件。
?? 連續穩定的流速意味著在 Deans 以及相關的流動切換技術中的保留
時間很穩定。
?? 優異的對稱色譜峰改進了氣體、溶劑和烴的純度分析。
可供選擇的柱子：
Rt®-Alumina 鍵合柱、Rt®-QS-鍵合柱、Rt®-Msieve 、Rt®-S-鍵合柱、
Rt®-Q-鍵合柱、Rt®-U-鍵合柱、New MXT®- Alumina 鍵合柱、New MXT®- Msieve
具體信息可登陸www.restek.com/petro 查詢

新一代多孔層開口管柱（PLOT）
1. 穩定的微粒涂層提高了保留時間和流速的穩健性和重復性。
2. *符合閥門切換和 Deans 切換系統。
3. 、重復性分析，是*氣體、溶劑和烴類的理想選擇。
4. 新的制作工序減少了微粒脫落，改進了多孔聚合物柱、分子篩柱和PLOT
柱的性能。
多孔層開口管柱（PLOT）非常適合解決實際應用的難題，特別是揮發性化合
物的分析。PLOT 柱具有*的選擇性，室溫下可以分離氣態化合物。由于PLOT
柱中載體的吸附機理，可以溶解室溫下的*氣體和輕烴，然后柱子程序升溫到
較高溫度，蒸餾出較高沸點的化合物。

傳統PLOT 柱的穩定性比較差
傳統型PLOT 柱是由5-50μm 的微粒涂層粘附在管壁上制作而成。由于這種微
粒涂層缺乏穩定性，所以PLOT 柱必須謹慎使用，因為微粒容易脫落，可能導致
保留時間和流動特性異常的變化。通常，PLOT 柱必須和微粒捕集器結合使用，
目的是防止閥門、進樣口和GC 檢測器被污染。圖1 是一個微粒堆積導致
Press-Tight®襯管內部堵塞的例子。如果不使用微粒捕集器，微粒就會擊打檢測
器，導致電子噪聲，表現出來的就是基線毛刺；對于閥門來說，微粒可能就積聚
在里面，導致泄露。

新型PLOT 柱zui小化微粒脫落
Restek 開發的新工藝研制出的PLOT 柱具有集中、穩定的吸附層。新一代PLOT
色譜柱表現出穩定的流動特性（通透性），顯著改進了機械穩定性，使得操作更
容易、減少微粒脫落，從而成為性能更好的色譜分析。穩定性更好的微粒意味著
保留時間的重復性更高、沒有尖峰、柱子的壽命更長。目前，這種創新型穩定化
學技術應用于Rt®-Alumina 鍵合柱、Rt®-Msieve 、Rt®-Q-鍵合柱、Rt®-QS-鍵合
柱、Rt®-S-鍵合柱、Rt®-U-鍵合柱等熔融石英柱。同時，也應用于*的金屬柱
包括MXT®-Alumina 鍵合柱和MXT®- Msieve 柱。

限流因子（F）的一致性保證了流動特性的再現性
傳統工序制作的PLOT 柱，微粒不容易沉積在均勻的厚涂層上，導致涂層的
厚度不均勻一致。涂層比較厚的位置會限制和影響流速（圖2）。受這些限制因
素數量和強度的影響，傳統PLOT 柱比涂壁空心柱的限流更易發生變化。實際上，
在相同公稱壓力下使用相同尺寸的常規PLOT 柱，它們的流速也會因4-6 個因素
的影響而不同。流動比較重要的應用中，比如Deans 切換器中，大多數商業用
PLOT 柱的不穩定的流動特性是個難題。
 

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深圳市高比科技有限公司北京生物部