應用

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的

情況下進行表面鍍層厚度的測量  ，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。

行業

用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個行業表面鍍層厚度的測量。

主要規格               規格描述

 X射線激發系統        垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

                       標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

                       功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準

                             75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選

                             裝備有安全防射線光閘

                             二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選

 準直器程控交換系統    zui多可同時裝配6種規格的準直器

                       多種規格尺寸準直器任選：

                       －圓形，如4、6、8、12、20 mil等

                       －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測量斑點尺寸          在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)

                      在12.7mm聚焦距離時，zui大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)

 樣品室

－樣品室結構                開槽式樣品室

－zui大樣品臺尺寸            610mm x 610mm

－XY軸程控移動范圍         標準：152.4 x 177.8mm還有5種規格任選

－Z軸程控移動高度          43.18mm

－XYZ三軸控制方式         多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

 －樣品觀察系統             高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。

                            （50倍和100倍觀察系統任選。）激光自動對焦功能

                             可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

樣品種類：                   鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

                             可檢測元素范圍：Ti22 – U92。可同時測定5層/15種元素/共存元素校正

                             貴金屬檢測，如Au karat評價

                             材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測

                             液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量

                             多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析

－調整和校正功能             系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移

－測量自動化功能             鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復測量模式，測量位置預覽功能，激光對焦和自動對焦功能

－樣品臺程控功能             設定測量點，連續多點測量，測量位置預覽

－統計計算功能               平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖數據庫存儲功能

－系統安全監測功能           Z軸保護傳感器，樣品室門開閉傳感器

●精度高、穩定性好

●強大的數據統計、處理功能

●測量范圍寬

●NIST認證的標準片

●服務及支持