RoHs/鹵素（無鹵）檢測系統

型號X-5600

產品概述：

X-5600型RoHS測試儀是一種體現X射線熒光分析技術進展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率水制冷小型X光管為激發源，電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的*分析方法的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方， 正是它大有作為之處。

主要應用于電子 、五金、包裝等行業材料中的有害元素檢測、玩具、PVC、陶瓷等行業的鹵素（即無鹵檢測）和RoHS檢測；也可用于電鍍行業的鍍層分析、玻璃、皮革等行業及質檢商檢機構。

產品特點：

1.無損檢測：無需制樣，無損、快速分析

2.儀器雙箱體結構：有效屏蔽干擾，增加儀器整體穩定性,保障測量結果的準確

3.三重防輻射系統：樣品倉打開，X光管快門自動閉鎖；更換樣品時X光管自動切斷電壓電流；儀器多層屏蔽艙蓋，有效防止X射線外溢

4.銀銅雙峰位自調系統：銀、銅雙峰位同時自動校準，當儀器峰位發生偏移時，隨時修正工作曲線，軟件可自動調整并恢復儀器到正常測量狀態，避免系統偏差帶來誤差，隨時保證測量數據精準（同行業中*采取軟件雙峰位全自動調整系統）；

5.溫度控制系統：內部采用風冷、水冷，油冷三重冷卻系統，zui大限度降低X光管工作溫度，有效延長X光管使用壽命，且保證儀器長時間工作穩定，測量精度更準確；

6.操作軟件：開放式操作軟件，用戶可根據自己的需求進行二次開發，實現儀器的zui大效用，使一機多能；

7.報告格式：輸出報告格式可根據用戶要求獨立設計，用戶也可以自行二次開發

8.定量分析方法：基本參數法、理論Alpha系數法、經驗系數法、多元回歸法等（國內同行業*采取此類綜合計算方法）；

9.定性分析方法：元素自動尋峰、Kl譜線標記法、譜峰比對法等

10.分析強度計算方式采用，毛強度、凈強度、解譜、峰背比及內標比，根據不同條件可選擇zui適當的強度計算方式。

11.鍍層檢測功能：可對不同基體上的不同金屬鍍層進行多層檢測

12.選配：可選配移動平臺，方便物體移動，多點檢測

技術參數：

1、元素分析范圍：從鋁（13號元素）—鈾（92號元素）；

2、含量分析范圍：1mg/Kg - 10^6mg/Kg（1ppm=1 mg/Kg）

3、測量樣品型態多樣：固體、粉末、液體；

4、測量時間:快速檢測模式2秒，正常檢測模式30-180秒，可由用戶自由選擇

5、分析檢出限：

鉻Cr的檢出限是2.1ppm；

汞Hg的檢出限是3.2ppm；

鉛Pb的檢出限是1.2ppm；

溴Br的檢出限是0.3ppm；

鎘Cd的檢出限是5.8ppm

氯Cl的檢出限是12.6ppm

針對三星內部標準，加測銻Sb元素，檢出限4.3ppm

6、激發源：采用低能耗大功率 X 射線管，zui高電壓50kV，zui大電流1mA；

7、濾波系統+準直器：10種濾波片與5種準直器自動切換組合系統，提升檢測范圍和精度，并對不同元素采用有針對性的檢測條件

8、高壓電源：zui大50W，50KV，1mA；

9、探測器：美國*Amptek公司電制冷X-123 SIPIN半導體探測器；

10.探測面積：6mm2

11、分辨率：55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優于129eV；對于12us的形成時間，半高寬為129eV

12.硅活化區厚度：500μm  

13.探測器窗口：鈹窗，12.5μm厚

14.重復測量穩定性：10次連續測量的標準偏差小于0.05%

15、多道分析器：2048道；

16、攝像頭：CCD光學鏡頭；

17、樣品成像定位系統：內置自感光500萬像素攝像頭及定位軟件，方便樣品的局部定位測量；

18、工作電源：交流 220V/50Hz

19、樣品倉尺寸：345×335×120（mm）

20、外型尺寸：600×520×370（mm）

21、儀器重量：約39公斤

22、工作環境溫度：18℃—28℃

23、工作環境相對濕度：≤70%

安全對比數據說明：

比對數據：

表一、歐標EC681K測試數據對比：                                       （單位：mg/Kg）

表二、歐盟標樣EC681K、EC680K測量結果：                               （單位：mg/Kg）

輻射安全報告

依據《X射線衍射儀和熒光分析儀衛生防護標準》GBZ115-2002，空氣比釋動能率低于2.5μSv/h對人體不夠成傷害。