產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池 |
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美國QVI好精度影像測量儀
全新Precis 200 是基于Micro-Metric的Innova晶圓量測系統開發而來,集成了VIEW設計和技術。新的PRECIS包括許多可配置的選項,使該系統更加通用、實用和可某靠:
擴展Z軸范圍-2.5mm,5mm或100 mm.
透射照明
完整電子繪圖 – *符合 SEMI S2 和 CE 標準。
符合人體工程學的操作員控制臺 ,帶有隱藏鍵盤托盤, 可調節高度和角度的控制面板和顯示器,符合SEMI S8
全自動程序控制顯微鏡頭
兆像素分辨率攝像頭
VIEW Metrology Software (VMS™) 可以測量的零件類型很廣, 可選CAD導入 以及完整的幾何尺寸和公差判定。
MMWin – Wafer和Mask測量軟件 –晶圓的重要尺寸和迭置重合測量, slider ABS,光掩模和平板顯示器。
全新的Precis 200 是基于Micro-Metric的Innova晶圓量測系統開發而來,集成了VIEW設計和技術。新的PRECIS包括許多可配置的選項,使該系統更加通用、實用和可某靠:
擴展Z軸范圍-2.5mm,5mm或100 mm.
透射照明
完整電子繪圖 – *符合 SEMI S2 和 CE 標準。
符合人體工程學的操作員控制臺 ,帶有隱藏鍵盤托盤, 可調節高度和角度的控制面板和顯示器,符合SEMI S8
全自動程序控制顯微鏡頭
兆像素分辨率攝像頭
VIEW Metrology Software (VMS™) 可以測量的零件類型很廣, 可選CAD導入 以及完整的幾何尺寸和公差判定。
MMWin – Wafer和Mask測量軟件 –晶圓的重要尺寸和迭置重合測量, slider ABS,光掩模和平板顯示器。