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Surfix®EX涂層測厚儀應用
閱讀：24 發布時間：2025-8-8Surfix®EX涂層測厚儀應用
帶有固定標準探頭的 Surfix® EX 設備適用于明確定義測量任務的應用
涂層測厚儀Surfix®EX/Surfix®SX
現代涂層厚度測量：圖形顯示、PC 連接、簡單的操作以及經過驗證的 PHYNIX 探頭
這種新型 PHYNIX 測量儀的突出特點是具有改進的文本顯示的絢麗彩色圖形顯示，并允許各種不同的操作語言。該標準現在包括英語、德語、法語、意大利語、西班牙語、土耳其語、捷克語和中文。與 Surfix 系列相比，內部存儲器大大擴大，現在可以存儲多達 2,000 個測量值。只需通過 USB 2.0 即可連接到計算機。PHYNIX.connect 是一個適用于所有現代 Windows 系統的數據傳輸程序，有助于將測量值傳輸到 Excel 中。
有兩種型號可供選擇：Surfix® SX 可以連接到 PHYNIX 探頭程序中的所有探頭。這確保了盡可能高的靈活性，使設備能夠完成許多不同的測量任務。帶有固定標準探頭的 Surfix® EX 設備適用于明確定義測量任務的應用。與具有高質量插件連接的 Surfix® SX 相比，它易于使用且更具成本效益。
技術規格
| Surfix® SX | Surfix® EX | |
|---|---|---|
| 規格 | 用于連接可更換的獨立探頭（可用探頭：參見單獨的傳單探頭） | 外部固定探頭 |
| 測量范圍 | 取決于探頭 | 0 – 1,500 微米 |
| 準確性 | 取決于探頭 ，高 +/-（0.7 μm + 1 % 讀數） | +/-（1 μm + 讀數的 1 %） |
| 解決 | 0.1 μm 或 < 0.2 % 讀數（使用標準探頭） | 0.1 μm 或 < 0.2 % 讀數（使用標準探頭） |
| 校準方法 | 工作校準、零位校準、單箔校準；零偏移 | 工作校準、零位校準、單箔校準；零偏移 |
| 統計數據 | 測量值個數、平均值、標準偏差、小和大測量值 | 測量值個數、平均值、標準偏差、小和大測量值 |
| 記憶 | 大限度。2.000 個讀數 | 大限度。2.000 個讀數 |
| 數據傳輸 | USB 2.0 | USB 2.0 |
| 展示 | 高分辨率彩色顯示器 | 高分辨率彩色顯示器 |
| 工作溫度 | 0°C 至 + 50°C | 0°C 至 + 50°C |
| 表面溫度 | –15 °C 至 + 60 °C（標準） –15 °C 至 + 150 °C 或 300 °C（可選高溫支腳） | –15 °C 至 + 60 °C（標準） –15 °C 至 + 150 °C 或 300 °C（可選高溫支腳） |
| 尺寸規 | 137 毫米 x 66 毫米 x 23 毫米 | 137 毫米 x 66 毫米 x 23 毫米 |
| 重量 | 205 克（包括 FN 1.5 探頭和電池） | 205 克（包括 FN 1.5 探頭和電池） |
| 防護等級 | IP 52（防塵和防滴水） | IP 52（防塵和防滴水） |
| 標準 | DIN、ISO、ASTM、BS | DIN、ISO、ASTM、BS |
| 保修單 | 2年 | 2年 |